簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果：共2筆資料 檢索策略： "Jiann-Liang Chen".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="錯誤更正碼"


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    內嵌式記憶體良率與可靠度之協同提升技術
    • 電機工程系 /102/ 碩士
    • 研究生： 何思瑩   指導教授： 呂學坤
    • 隨著半導體製程技術的進步，系統晶片 (SOC) 中使用的嵌入式記憶體容量與密度越來越高，而導致記憶體故障更容易發生。因此，記憶體的良率很大程度決定系統晶片的良率。單一位元故障占所有故障形態比例最高，…
    • 點閱：333  下載：18 

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    結合硬體修復與錯誤修正碼提升嵌入式記憶體良率與可靠度技術
    • 電機工程系 /103/ 碩士
    • 研究生： 蔡政儒   指導教授： 呂學坤
    • 錯誤修正碼與內建自我修復 (BISR) 技術被廣泛的用來改善記憶體良率與可靠度。而這兩個技術主要處理的錯誤與瑕疵分別為永久瑕疵 (硬錯誤) 與軟錯誤。在過去有許多研究探討如何使用錯誤修正碼與 BIS…
    • 點閱：777  下載：18 
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